published online 25 December
Reliability Improvements in 50 nm MLC NAND Flash Memory Using Short Voltage Programming Pulses / Irrera, Fernanda; I., Piccoli; Puzzilli, Giuseppina; M., Rossini; T., Vali. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 49:(2009), pp. 135-138. [10.1016/j.microrel.2008.11.006]
Reliability Improvements in 50 nm MLC NAND Flash Memory Using Short Voltage Programming Pulses
IRRERA, Fernanda;PUZZILLI, Giuseppina;
2009
Abstract
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