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Safe operation region characterization for quantifying the reliability of CMOS logic affected by process variations / Khalid, U., Mastrandrea, A., Olivieri, M.. - (2014). (Microelectronics and Electronics (PRIME), 2014 10th Conference on Ph. D. Research in June 2014) [10.1109/PRIME.2014.6872763].

Safe operation region characterization for quantifying the reliability of CMOS logic affected by process variations

KHALID, USMAN;MASTRANDREA, ANTONIO;OLIVIERI, Mauro
2014
2014
Microelectronics and Electronics (PRIME), 2014 10th Conference on Ph. D. Research in
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
Safe operation region characterization for quantifying the reliability of CMOS logic affected by process variations / Khalid, U., Mastrandrea, A., Olivieri, M.. - (2014). (Microelectronics and Electronics (PRIME), 2014 10th Conference on Ph. D. Research in June 2014) [10.1109/PRIME.2014.6872763].
04b Atto di convegno in volume
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/625589
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