Several software tools were used to perform on-line and of-line noise analysis as a support to commissioning activities to monitor the rate of glitches the occurrence of non stationary noise the presence of environmental contamination the behavior of narrow spectral features and the coherence with auxiliary channels. We report about the use of these tools to study the main sources of identified noise: broadband spectral lines and glitches. Plans for the upgrade of the tools will be presented for example for lines identification purpose to let the scientists in control room do noise characterization in an easier way. © 2010 IOP Publishing Ltd.
Tools for noise characterization in Virgo / Accadia, T.; Acernese, F.; Antonucci, F.; Astone, P.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsuglia, M.; Bauer Th, S; Beker, M. G.; Belletoile, A.; Birindelli, S.; Bitossi, M.; Bizouard, M. A.; Blom, M.; Bondu, F.; Bonelli, L.; Bonnand, R.; Boschi, V.; Bosi, L.; Bouhou, B.; Braccini, S.; Bradaschia, C.; Brillet, A.; Brisson, V.; Budzynski, R.; Bulik, T.; Bulten, H. J.; Buskulic, D.; Buy, C.; Cagnoli, G.; Calloni, E.; Campagna, E.; Canuel, B.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Chassande Mottin, E.; Chincarini, A.; Cleva, F.; Coccia, E.; Colacino, C. N.; Colas, J.; Colla, A.; Colombini, M.; Corsi, A.; Coulon, J. P.; Cuoco, E.; D'Antonio, S.; Dattilo, V.; Davier, M.; Day, R.; De Rosa, R.; Debreczeni, G.; Del Prete, M.; Di Fiore, L.; Di Lieto, A.; Di Paolo Emilio, M.; Di Virgilio, A.; Dietz, A.; Drago, M.; Fafone, V.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J. D.; Franc, J.; Frasca, Sergio; Frasconi, F.; Freise, A.; Galimberti, M.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Gaspar, M. E.; Gemme, G.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Gouaty, R.; Granata, M.; Greverie, C.; Guidi, G. M.; Hayau, J. F.; Heitmann, H.; Hello, P.; Hild, S.; Huet, D.; Jaranowski, P.; Kowalska, I.; Krolak, A.; Leroy, N.; Letendre, N.; T. G. F., Li; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Majorana, E.; Maksimovic, I.; Man, N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Michel, C.; Milano, L.; Minenkov, Y.; Mohan, M.; Morgado, N.; Morgia, A.; Mosca, S.; Moscatelli, V.; Mours, B.; Neri, I.; Nocera, F.; Pagliaroli, G.; Palladino, L.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Parisi, M.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Persichetti, G.; Pichot, M.; Piergiovanni, F.; Pietka, M.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Prato, M.; Prodi, G. A.; Punturo, M.; Puppo, P.; Rabeling, D. S.; Racz, I.; Rapagnani, Piero; Re, V.; Regimbau, T.; Ricci, Fulvio; Robinet, F.; Rocchi, A.; Rolland, L.; Romano, R.; Rosinska, D.; Ruggi, P.; Sassolas, B.; Sentenac, D.; Sperandio, L.; Sturani, R.; Swinkels, B.; Toncelli, A.; Tonelli, M.; Torre, O.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Vajente, G.; Van Den Brand, J. F. J.; Van Der Putten, S.; Vasuth, M.; Vavoulidis, M.; Vedovato, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J. Y.; Vocca, H.; Was, M.; Yvert, M.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - STAMPA. - 243:(2010), p. 012004. (Intervento presentato al convegno 14th Gravitational Waves Data Analysis Workshop, GWDAW-14 tenutosi a Rome nel 26 January 2010 through 29 January 2010) [10.1088/1742-6596/243/1/012004].
Tools for noise characterization in Virgo
T. Accadia; F. Acernese; F. Antonucci; P. Astone; G. Ballardin; F. Barone; M. Barsuglia; Bauer Th S; M. G. Beker; A. Belletoile; S. Birindelli; M. Bitossi; M. A. Bizouard; M. Blom; F. Bondu; L. Bonelli; R. Bonnand; V. Boschi; L. Bosi; B. Bouhou; S. Braccini; C. Bradaschia; A. Brillet; V. Brisson; R. Budzynski; T. Bulik; H. J. Bulten; D. Buskulic; C. Buy; G. Cagnoli; E. Calloni; E. Campagna; B. Canuel; F. Carbognani; F. Cavalier; R. Cavalieri; G. Cella; E. Cesarini; E. Chassande Mottin; A. Chincarini; F. Cleva; E. Coccia; C. N. Colacino; J. Colas; A. Colla; M. Colombini; A. Corsi; J. P. Coulon; E. Cuoco; S. D'Antonio; V. Dattilo; M. Davier; R. Day; R. De Rosa; G. Debreczeni; M. Del Prete; L. Di Fiore; A. Di Lieto; M. Di Paolo Emilio; A. Di Virgilio; A. Dietz; M. Drago ;V. Fafone; I. Ferrante; F. Fidecaro; I. Fiori; R. Flaminio; J. D. Fournier; J. Franc; FRASCA, Sergio ;F. Frasconi; A. Freise; M. Galimberti; L. Gammaitoni; F. Garufi; M. E. Gaspar; G. Gemme; E. Genin; A. Gennai; A. Giazotto; R. Gouaty; M. Granata; C. Greverie; G. M. Guidi; J. F. Hayau; H. Heitmann; P. Hello; S. Hild; D. Huet; P. Jaranowski; I. Kowalska; A. Krolak; N. Leroy; N. Letendre; T. G. F. Li; M. Lorenzini; V. Loriette; G. Losurdo; E. Majorana ;I. Maksimovic; N. Man; M. Mantovani; F. Marchesoni; F. Marion; J. Marque; F. Martelli; A. Masserot; C. Michel; L. Milano; Y. Minenkov; M. Mohan; N. Morgado; A. Morgia; S. Mosca; V. Moscatelli; B. Mours; I. Neri; F. Nocera; G. Pagliaroli; L. Palladino; C. Palomba; F. Paoletti; S. Pardi; M. Parisi; A. Pasqualetti; R. Passaquieti; D. Passuello; G. Persichetti; M. Pichot; F. Piergiovanni; M. Pietka; L. Pinard; R. Poggiani; M. Prato; G. A. Prodi; M. Punturo; P. Puppo; D. S. Rabeling; I. Racz; RAPAGNANI, Piero ;V. Re; T. Regimbau; RICCI, Fulvio ;F. Robinet; A. Rocchi; L. Rolland; R. Romano; D. Rosinska; P. Ruggi; B. Sassolas; D. Sentenac; L. Sperandio; R. Sturani; B. Swinkels; A. Toncelli; M. Tonelli; O. Torre; E. Tournefier; F. Travasso; G. Vajente; J. F. J. Van Den Brand; S. Van Der Putten; M. Vasuth; M. Vavoulidis; G. Vedovato; D. Verkindt; F. Vetrano; A. Vicere; J. Y. Vinet; H. Vocca; M. Was; M. Yvert
2010
Abstract
Several software tools were used to perform on-line and of-line noise analysis as a support to commissioning activities to monitor the rate of glitches the occurrence of non stationary noise the presence of environmental contamination the behavior of narrow spectral features and the coherence with auxiliary channels. We report about the use of these tools to study the main sources of identified noise: broadband spectral lines and glitches. Plans for the upgrade of the tools will be presented for example for lines identification purpose to let the scientists in control room do noise characterization in an easier way. © 2010 IOP Publishing Ltd.
Citazione
Tools for noise characterization in Virgo / Accadia, T.; Acernese, F.; Antonucci, F.; Astone, P.; Ballardin, G.; Barone, F.; Barsuglia, M.; Bauer Th, S; Beker, M. G.; Belletoile, A.; Birindelli, S.; Bitossi, M.; Bizouard, M. A.; Blom, M.; Bondu, F.; Bonelli, L.; Bonnand, R.; Boschi, V.; Bosi, L.; Bouhou, B.; Braccini, S.; Bradaschia, C.; Brillet, A.; Brisson, V.; Budzynski, R.; Bulik, T.; Bulten, H. J.; Buskulic, D.; Buy, C.; Cagnoli, G.; Calloni, E.; Campagna, E.; Canuel, B.; Carbognani, F.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cesarini, E.; Chassande Mottin, E.; Chincarini, A.; Cleva, F.; Coccia, E.; Colacino, C. N.; Colas, J.; Colla, A.; Colombini, M.; Corsi, A.; Coulon, J. P.; Cuoco, E.; D'Antonio, S.; Dattilo, V.; Davier, M.; Day, R.; De Rosa, R.; Debreczeni, G.; Del Prete, M.; Di Fiore, L.; Di Lieto, A.; Di Paolo Emilio, M.; Di Virgilio, A.; Dietz, A.; Drago, M.; Fafone, V.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Flaminio, R.; Fournier, J. D.; Franc, J.; Frasca, Sergio; Frasconi, F.; Freise, A.; Galimberti, M.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Gaspar, M. E.; Gemme, G.; Genin, E.; Gennai, A.; Giazotto, A.; Gouaty, R.; Granata, M.; Greverie, C.; Guidi, G. M.; Hayau, J. F.; Heitmann, H.; Hello, P.; Hild, S.; Huet, D.; Jaranowski, P.; Kowalska, I.; Krolak, A.; Leroy, N.; Letendre, N.; T. G. F., Li; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Majorana, E.; Maksimovic, I.; Man, N.; Mantovani, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marque, J.; Martelli, F.; Masserot, A.; Michel, C.; Milano, L.; Minenkov, Y.; Mohan, M.; Morgado, N.; Morgia, A.; Mosca, S.; Moscatelli, V.; Mours, B.; Neri, I.; Nocera, F.; Pagliaroli, G.; Palladino, L.; Palomba, C.; Paoletti, F.; Pardi, S.; Parisi, M.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Persichetti, G.; Pichot, M.; Piergiovanni, F.; Pietka, M.; Pinard, L.; Poggiani, R.; Prato, M.; Prodi, G. A.; Punturo, M.; Puppo, P.; Rabeling, D. S.; Racz, I.; Rapagnani, Piero; Re, V.; Regimbau, T.; Ricci, Fulvio; Robinet, F.; Rocchi, A.; Rolland, L.; Romano, R.; Rosinska, D.; Ruggi, P.; Sassolas, B.; Sentenac, D.; Sperandio, L.; Sturani, R.; Swinkels, B.; Toncelli, A.; Tonelli, M.; Torre, O.; Tournefier, E.; Travasso, F.; Vajente, G.; Van Den Brand, J. F. J.; Van Der Putten, S.; Vasuth, M.; Vavoulidis, M.; Vedovato, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J. Y.; Vocca, H.; Was, M.; Yvert, M.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - STAMPA. - 243:(2010), p. 012004. (Intervento presentato al convegno 14th Gravitational Waves Data Analysis Workshop, GWDAW-14 tenutosi a Rome nel 26 January 2010 through 29 January 2010) [10.1088/1742-6596/243/1/012004].
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Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande. La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.