Characterisation of charge trapping in SiO2/Al2O3 dielectric stacks by pulsed C-V / Puzzilli, Giuseppina; B., Govoreanu; Irrera, Fernanda; M., Rosmeulen; J., Van Houdt. - STAMPA. - (2006). (Intervento presentato al convegno Workshop on Dielectrics in Microelectronics tenutosi a ACIREALE (CATANIA) nel 2006).
Characterisation of charge trapping in SiO2/Al2O3 dielectric stacks by pulsed C-V
PUZZILLI, Giuseppina;IRRERA, Fernanda;
2006
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