A comprehensive model of oxide degradation / Irrera, Fernanda; Caputo, Domenico; Puzzilli, Giuseppina. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 45:(2005), pp. 853-856. [10.1016/j.microrel.2004.11.032]
A comprehensive model of oxide degradation
IRRERA, Fernanda;CAPUTO, Domenico;PUZZILLI, Giuseppina
2005
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