Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming / Puzzilli, Giuseppina; Caputo, Domenico; Irrera, Fernanda; MONZIO COMPAGNONI, C; Ielmini, D; SPINELLI A., S; LACAITA A., L; Gerardi, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY. - ISSN 1530-4388. - 4:(2004), pp. 390-396. [10.1109/TDMR.2004.837122]
Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming
PUZZILLI, Giuseppina;CAPUTO, Domenico;IRRERA, Fernanda;
2004
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