Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming / Puzzilli, G., Caputo, D., Irrera, F., MONZIO COMPAGNONI, C., Ielmini, D., SPINELLI A., S., LACAITA A., L., Gerardi, C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY. - ISSN 1530-4388. - 4:(2004), pp. 390-396. [10.1109/TDMR.2004.837122]
Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming
PUZZILLI, Giuseppina;CAPUTO, Domenico;IRRERA, Fernanda;
2004
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
