Oblique Grain Boundaries: Analysis of Light and Electron Beam Induced Current Profiles in Silicon / A., M., Capizzi, M., Coluzza, C., Frova, A., Parisi, V., D., C., L., M., M., P.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 63:(1988), pp. 4748-4750. [10.1063/1.340135]
Oblique Grain Boundaries: Analysis of Light and Electron Beam Induced Current Profiles in Silicon
CAPIZZI, Mario;COLUZZA, Carlo;FROVA, Andrea;PARISI, Valerio;
1988
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