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The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE) will expand the information space for study of cosmic sources, by adding linear polarization to the properties (time, energy, and position) observed in x-ray astronomy. Selected in 2017 January as a NASA Astrophysics Small Explorer (SMEX) mission, IXPE will be launched into an equatorial orbit in 2021. The IXPE mission will provide scientifically meaningful measurements of the x-ray polarization of a few dozen sources in the 2-8 keV band, including polarization maps of several x-ray-bright extended sources and phase-resolved polarimetry of many bright pulsating x-ray sources.
The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE): technical overview / O'Dell, Stephen L.; Baldini, Luca; Bellazzini, Ronaldo; Costa, Enrico; Elsner, Ronald F.; Kaspi, Victoria M.; Kolodziejczak, Jeffery J.; Latronico, Luca; Marshall, Herman L.; Matt, Giorgio; Mulieri, Fabio; Ramsey, Brian D.; Romani, Roger W.; Soffitta, Paolo; Tennant, Allyn F.; Weisskopf, Martin C.; Allen, D. Zachary; Amici, Fabrizio; Antoniak, Spencer; Attina, Primo; Bachetti, Matteo; Barbanera, Mattia; Baumgartner, Wayne H.; Bladt, Jeff; Bongiorno, Stephen D.; Borotto, Fabio; Brooks, Thomas; Bussinger, Scott; Bygott, H. Kyle; Cavazzuti, Elisabetta; Ceccanti, Marco; Citraro, Saverio; Deininger, William D.; Del Monte, Ettore; Dietz, Kurtis L.; Di Lalla, Niccolò; Di Persio, Giuseppe; Donnarumma, Immacolata; Erickson, Jennifer; Evangelista, Yuri; Fabiani, Sergio; Ferrazzoli, Riccardo; Foster, Michele; Giusti, Manuela; Gunji, Shuichi; Guy, Larry; Johnson, Sandra; Kalinowski, William; Kelley, Anthony R.; Kilaru, Kiranmayee; Lefevre, Carlo; Maldera, Simone; Manfreda, Alberto; Marengo, Marco; Masciarelli, James; Mceachen, Mike; Mereu, Paolo; Minuti, Massimo; Mitchell, Mark A.; Mitchell, Scott; Mitsuishi, Ikuyuki; Morbidini, Alfredo; Mosti, Federico; Nasimi, Hikmat; Negri, Barbara; Orsini, Leonardo; Osborne, Darren; Pavelitz, Steven D.; Pentz, Christina; Perri, Matteo; Pesce-Rollins, Melissa; Peterson, Colin; Piazzolla, Raffaele; Pieraccini, Stefano; Pilia, Maura; Pinchera, Michele; Puccetti, Simonetta; Ranganathan, Jaganathan; Read, Tim; Rubini, Alda; Santoli, Francesco; Sarra, Paolo; Schindhelm, Sarah; Sciortino, Andrea; Seckar, Chris; Sgrò, Carmelo; Smith, Brian T.; Speegle, Chet O.; Tamagawa, Toru; Tardiola, Marcello; Tobia, Antonino; Tortosa, Alessia; Trois, Alessio; Weddendorf, Bruce; Wedmore, Jeff; Zanetti, Davide. - 10699:(2018), p. 68. (Intervento presentato al convegno SPIE Optics + Photonics 2018 tenutosi a San Diego, USA) [10.1117/12.2314146].
The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE): technical overview
O'Dell, Stephen L.;Baldini, Luca;Bellazzini, Ronaldo;Costa, Enrico;Elsner, Ronald F.;Kaspi, Victoria M.;Kolodziejczak, Jeffery J.;Latronico, Luca;Marshall, Herman L.;Matt, Giorgio;Mulieri, Fabio;Ramsey, Brian D.;Romani, Roger W.;Soffitta, Paolo;Tennant, Allyn F.;Weisskopf, Martin C.;Allen, D. Zachary;Amici, Fabrizio;Antoniak, Spencer;Attina, Primo;Bachetti, Matteo;Barbanera, Mattia;Baumgartner, Wayne H.;Bladt, Jeff;Bongiorno, Stephen D.;Borotto, Fabio;Brooks, Thomas;Bussinger, Scott;Bygott, H. Kyle;Cavazzuti, Elisabetta;Ceccanti, Marco;Citraro, Saverio;Deininger, William D.;Del Monte, Ettore;Dietz, Kurtis L.;Di Lalla, Niccolò;Di Persio, Giuseppe;Donnarumma, Immacolata;Erickson, Jennifer;Evangelista, Yuri;Fabiani, Sergio;Ferrazzoli, Riccardo;Foster, Michele;Giusti, Manuela;Gunji, Shuichi;Guy, Larry;Johnson, Sandra;Kalinowski, William;Kelley, Anthony R.;Kilaru, Kiranmayee;Lefevre, Carlo;Maldera, Simone;Manfreda, Alberto;Marengo, Marco;Masciarelli, James;McEachen, Mike;Mereu, Paolo;Minuti, Massimo;Mitchell, Mark A.;Mitchell, Scott;Mitsuishi, Ikuyuki;Morbidini, Alfredo;Mosti, Federico;Nasimi, Hikmat;Negri, Barbara;Orsini, Leonardo;Osborne, Darren;Pavelitz, Steven D.;Pentz, Christina;Perri, Matteo;Pesce-Rollins, Melissa;Peterson, Colin;Piazzolla, Raffaele;Pieraccini, Stefano;Pilia, Maura;Pinchera, Michele;Puccetti, Simonetta;Ranganathan, Jaganathan;Read, Tim;Rubini, Alda;Santoli, Francesco;Sarra, Paolo;Schindhelm, Sarah;Sciortino, Andrea;Seckar, Chris;Sgrò, Carmelo;Smith, Brian T.;Speegle, Chet O.;Tamagawa, Toru;Tardiola, Marcello;Tobia, Antonino;Tortosa, Alessia;Trois, Alessio;Weddendorf, Bruce;Wedmore, Jeff;Zanetti, Davide
2018
Abstract
The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE) will expand the information space for study of cosmic sources, by adding linear polarization to the properties (time, energy, and position) observed in x-ray astronomy. Selected in 2017 January as a NASA Astrophysics Small Explorer (SMEX) mission, IXPE will be launched into an equatorial orbit in 2021. The IXPE mission will provide scientifically meaningful measurements of the x-ray polarization of a few dozen sources in the 2-8 keV band, including polarization maps of several x-ray-bright extended sources and phase-resolved polarimetry of many bright pulsating x-ray sources.
X-ray astronomy; polarimetry; missions; grazing-incidence optics; gas pixel detectors
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
The Imaging X-ray Polarimetry Explorer (IXPE): technical overview / O'Dell, Stephen L.; Baldini, Luca; Bellazzini, Ronaldo; Costa, Enrico; Elsner, Ronald F.; Kaspi, Victoria M.; Kolodziejczak, Jeffery J.; Latronico, Luca; Marshall, Herman L.; Matt, Giorgio; Mulieri, Fabio; Ramsey, Brian D.; Romani, Roger W.; Soffitta, Paolo; Tennant, Allyn F.; Weisskopf, Martin C.; Allen, D. Zachary; Amici, Fabrizio; Antoniak, Spencer; Attina, Primo; Bachetti, Matteo; Barbanera, Mattia; Baumgartner, Wayne H.; Bladt, Jeff; Bongiorno, Stephen D.; Borotto, Fabio; Brooks, Thomas; Bussinger, Scott; Bygott, H. Kyle; Cavazzuti, Elisabetta; Ceccanti, Marco; Citraro, Saverio; Deininger, William D.; Del Monte, Ettore; Dietz, Kurtis L.; Di Lalla, Niccolò; Di Persio, Giuseppe; Donnarumma, Immacolata; Erickson, Jennifer; Evangelista, Yuri; Fabiani, Sergio; Ferrazzoli, Riccardo; Foster, Michele; Giusti, Manuela; Gunji, Shuichi; Guy, Larry; Johnson, Sandra; Kalinowski, William; Kelley, Anthony R.; Kilaru, Kiranmayee; Lefevre, Carlo; Maldera, Simone; Manfreda, Alberto; Marengo, Marco; Masciarelli, James; Mceachen, Mike; Mereu, Paolo; Minuti, Massimo; Mitchell, Mark A.; Mitchell, Scott; Mitsuishi, Ikuyuki; Morbidini, Alfredo; Mosti, Federico; Nasimi, Hikmat; Negri, Barbara; Orsini, Leonardo; Osborne, Darren; Pavelitz, Steven D.; Pentz, Christina; Perri, Matteo; Pesce-Rollins, Melissa; Peterson, Colin; Piazzolla, Raffaele; Pieraccini, Stefano; Pilia, Maura; Pinchera, Michele; Puccetti, Simonetta; Ranganathan, Jaganathan; Read, Tim; Rubini, Alda; Santoli, Francesco; Sarra, Paolo; Schindhelm, Sarah; Sciortino, Andrea; Seckar, Chris; Sgrò, Carmelo; Smith, Brian T.; Speegle, Chet O.; Tamagawa, Toru; Tardiola, Marcello; Tobia, Antonino; Tortosa, Alessia; Trois, Alessio; Weddendorf, Bruce; Wedmore, Jeff; Zanetti, Davide. - 10699:(2018), p. 68. (Intervento presentato al convegno SPIE Optics + Photonics 2018 tenutosi a San Diego, USA) [10.1117/12.2314146].
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
