Ellipsometric and XPS analysis of the interface between silver and SiO2, TiO2 and SiNx thin films / E., Masetti; J., Bulir; S., Gagliardi; V., Janicki; A., Krasilnikova; G., DI SANTO; Coluzza, Carlo. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - (2004).
Ellipsometric and XPS analysis of the interface between silver and SiO2, TiO2 and SiNx thin films
COLUZZA, Carlo
2004
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