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Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the Rn-222 decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a similar to 2% increase in light yield compared to alphas in no field.
Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon / Agnes, P., Albuquerque, I.F.M., Alexander, T., Alton, A.K., Asner, D.M., Back, H.O., Baldin, B., Biery, K., Bocci, V., Bonfini, G., Bonivento, W., Bossa, M., Bottino, B., Brigatti, A., Brodsky, J., Budano, F., Bussino, S., Cadeddu, M., Cadoni, M., Calaprice, F., et al.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 12:(2017). [10.1088/1748-0221/12/01/P01021]
Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon
Agnes, P.;Albuquerque, I. F. M.;Alexander, T.;Alton, A. K.;Asner, D. M.;Back, H. O.;Baldin, B.;Biery, K.;Bocci, V.;Bonfini, G.;Bonivento, W.;Bossa, M.;Bottino, B.;Brigatti, A.;Brodsky, J.;Budano, F.;Bussino, S.;Cadeddu, M.;Cadoni, M.;Calaprice, F.;Canci, N.;Candela, A.;Caravati, M.;Cariello, M.;Carlini, M.;Catalanotti, S.;Cavalcante, P.;Chepurnov, A.;Cicalo, C.;Cocco, A. G.;Covone, G.;D'Angelo, D.;D'Incecco, M.;Davini, S.;DE CECCO, Sandro;De Deo, M.;De Vincenzi, M.;Derbin, A.;Devoto, A.;Di Eusanio, F.;Di Pietro, G.;DIONISI, Carlo;Edkins, E.;Empl, A.;Fan, A.;Fiorillo, G.;Fomenko, K.;Forster, G.;Franco, D.;Gabriele, F.;Galbiati, C.;GIAGU, Stefano;Giganti, C.;Giovanetti, G. K.;Goretti, A. M.;Granato, F.;Gromov, M.;Guan, M.;Guardincerri, Y.;Hackett, B. R.;Herner, K.;Hughes, D.;Humble, P.;Hungerford, E. V.;Ianni, A.;James, I.;Johnson, T. N.;Jollet, C.;Keeter, K.;Kendziora, C. L.;Koh, G.;Korablev, D.;Korga, G.;Kubankin, A.;Li, X.;Lissia, M.;Loer, B.;Lombardi, P.;Longo, G.;Ma, Y.;Machulin, I. N.;Mandarano, A.;Mari, S. M.;Maricic, J.;Marini, L.;Martoff, C. J.;Meregaglia, A.;Meyers, P. D.;Milincic, R.;Miller, J. D.;Montanari, D.;Monte, A.;Mount, B. J.;Muratova, V. N.;Musico, P.;Napolitano, J.;Agasson, A. Navrer;Odrowski, S.;Oleinik, A.;Orsini, M.;Ortica, F.;Pagani, L.;Pallavicini, M.;Pantic, E.;Parmeggiano, S.;Pelczar, K.;Pelliccia, N.;Pocar, A.;Pordes, S.;Pugachev, D. A.;Qian, H.;Randle, K.;Ranucci, G.;Razeti, M.;Razeto, A.;Reinhold, B.;Renshaw, A. L.;RESCIGNO, MARCO;Riffard, Q.;Romani, A.;Rossi, B.;Rossi, N.;Rountree, D.;Sablone, D.;Saggese, P.;Sands, W.;Savarese, C.;Schlitzer, B.;Segreto, E.;Semenov, D. A.;Shields, E.;Singh, P. N.;Skorokhvatov, M. D.;Smirnov, O.;Sotnikov, A.;Stanford, C.;Suvorov, Y.;Tartaglia, R.;Tatarowicz, J.;Testera, G.;Tonazzo, A.;Trinchese, P.;Unzhakov, E. V.;Verducci, M.;Vishneva, A.;Vogelaar, B.;Wada, M.;Walker, S.;Wang, H.;Wang, Y.;Watson, A. W.;Westerdale, S.;Wilhelmi, J.;Wojcik, M. M.;Xiang, X.;Xiao, X.;Xu, J.;Yang, C.;Zhong, W.;Zhu, C.;Zuzel, G.
2017
Abstract
Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the Rn-222 decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a similar to 2% increase in light yield compared to alphas in no field.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/968087
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Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
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