Metrological characterization of the bunch length measurement bymeans of a RF deflector at the ELI-NP Compton Gamma Source / Sabato, L.; Arpaia, P.; Liccardo, A.; Alesini, D.; Vaccarezza, C.; Variola, A.; Giribono, Anna; Mostacci, Andrea; Palumbo, Luigi. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 122-125. (Intervento presentato al convegno 7th International Particle Accelerator Conference, IPAC 2016 tenutosi a BEXCO Convention Center, kor nel 2016).
Metrological characterization of the bunch length measurement bymeans of a RF deflector at the ELI-NP Compton Gamma Source
GIRIBONO, ANNA;MOSTACCI, Andrea;PALUMBO, Luigi
2016
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