CMS RPC tracker muon reconstruction / Goh, J.; Kim, M. S.; Ban, Y; Cai, J.; Li, Q.; Liu, S.; Qian, S.; Wang, D.; Xu, Z.; Zhang, F.; Choi, Y.; Kim, D.; Choi, S.; Hong, B.; Kang, J. W.; Kang, M.; Kwon, J. H.; Lee, K. S.; Lee, S. K.; Park, S. K.; Pant, L. M.; Mohanty, A. K.; Chudasama, R.; Singh, J. B.; Bhatnagar, V.; Mehta, A.; Kumar, R.; Cauwenbergh, S.; Costantini, S.; Cimmino, A.; Crucy, S.; Fagot, A.; Garcia, G.; Ocampo, A.; Poyraz, D.; Salva, S.; Thyssen, F.; Tytgat, M.; Zaganidis, N.; Doninck, W. V.; Cabrera, A.; Chaparro, L.; Gomez, J. P.; Gomez, B.; Sanabria, J. C.; Avila, C.; Ahmad, A.; Muhammad, Saleh; Shoaib, M.; Hoorani, H.; Awan, I.; Ali, I.; Ahmed, W.; Asghar, M. I.; Shahzad, H.; Sayed, A.; Ibrahim, A.; Ali, S.; Ali, R.; Radi, A.; Elkafrawy, T.; Sharma, A.; Colafranceschi, S.; Abbrescia, M.; Calabria, C.; Colaleo, A.; Iaselli, G.; Loddo, F.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Pugliese, G.; Radogna, R.; Venditti, R.; Verwillingen, P.; Benussi, L.; Bianco, S.; Piccolo, D.; Paolucci, P.; Buontempo, S.; Cavallo, N.; Merola, M.; Fabozzi, F.; Iorio, O. M.; Braghieri, A.; Montagna, P.; Riccardi, C.; Salvini, P.; Vitulo, P.; Vai, I.; Magnani, A.; Dimitrov, A.; Litov, L.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Aleksandrov, A.; Genchev, V.; Iaydjiev, P.; Rodozov, M.; Sultanov, G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 9:10(2014), pp. C10027-C10027. [10.1088/1748-0221/9/10/C10027]

CMS RPC tracker muon reconstruction

MUHAMMAD, SALEH;
2014

2014
Performance of High Energy Physics Detectors; Resistive-plate chambers; Instrumentation; Mathematical Physics
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
CMS RPC tracker muon reconstruction / Goh, J.; Kim, M. S.; Ban, Y; Cai, J.; Li, Q.; Liu, S.; Qian, S.; Wang, D.; Xu, Z.; Zhang, F.; Choi, Y.; Kim, D.; Choi, S.; Hong, B.; Kang, J. W.; Kang, M.; Kwon, J. H.; Lee, K. S.; Lee, S. K.; Park, S. K.; Pant, L. M.; Mohanty, A. K.; Chudasama, R.; Singh, J. B.; Bhatnagar, V.; Mehta, A.; Kumar, R.; Cauwenbergh, S.; Costantini, S.; Cimmino, A.; Crucy, S.; Fagot, A.; Garcia, G.; Ocampo, A.; Poyraz, D.; Salva, S.; Thyssen, F.; Tytgat, M.; Zaganidis, N.; Doninck, W. V.; Cabrera, A.; Chaparro, L.; Gomez, J. P.; Gomez, B.; Sanabria, J. C.; Avila, C.; Ahmad, A.; Muhammad, Saleh; Shoaib, M.; Hoorani, H.; Awan, I.; Ali, I.; Ahmed, W.; Asghar, M. I.; Shahzad, H.; Sayed, A.; Ibrahim, A.; Ali, S.; Ali, R.; Radi, A.; Elkafrawy, T.; Sharma, A.; Colafranceschi, S.; Abbrescia, M.; Calabria, C.; Colaleo, A.; Iaselli, G.; Loddo, F.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Pugliese, G.; Radogna, R.; Venditti, R.; Verwillingen, P.; Benussi, L.; Bianco, S.; Piccolo, D.; Paolucci, P.; Buontempo, S.; Cavallo, N.; Merola, M.; Fabozzi, F.; Iorio, O. M.; Braghieri, A.; Montagna, P.; Riccardi, C.; Salvini, P.; Vitulo, P.; Vai, I.; Magnani, A.; Dimitrov, A.; Litov, L.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Aleksandrov, A.; Genchev, V.; Iaydjiev, P.; Rodozov, M.; Sultanov, G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 9:10(2014), pp. C10027-C10027. [10.1088/1748-0221/9/10/C10027]
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