Characterizing intrinsic charges in top gated bilayer graphene devices by Raman spectroscopy (vol 50, pg 3435, 2012) / Mafra, D. L.; Gaya, P.; Malard, L. M.; Borges, R. S.; Silva, G. G.; Leon, J. A.; Plentz, F.; Mauri, Francesco; Pimenta, M. A.. - In: CARBON. - ISSN 0008-6223. - 72:(2014), pp. 433-433. [10.1016/j.carbon.2012.03.006]
Characterizing intrinsic charges in top gated bilayer graphene devices by Raman spectroscopy (vol 50, pg 3435, 2012)
MAURI, FRANCESCO;
2014
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