Characterizing intrinsic charges in top gated bilayer graphene devices by Raman spectroscopy (vol 50, pg 3435, 2012) / Mafra, D.L., Gaya, P., Malard, L.M., Borges, R.S., Silva, G.G., Leon, J.A., Plentz, F., Mauri, F., Pimenta, M.A.. - In: CARBON. - ISSN 0008-6223. - 72:(2014), pp. 433-433. [10.1016/j.carbon.2012.03.006]

Characterizing intrinsic charges in top gated bilayer graphene devices by Raman spectroscopy (vol 50, pg 3435, 2012)

MAURI, FRANCESCO;
2014

2014
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Characterizing intrinsic charges in top gated bilayer graphene devices by Raman spectroscopy (vol 50, pg 3435, 2012) / Mafra, D.L., Gaya, P., Malard, L.M., Borges, R.S., Silva, G.G., Leon, J.A., Plentz, F., Mauri, F., Pimenta, M.A.. - In: CARBON. - ISSN 0008-6223. - 72:(2014), pp. 433-433. [10.1016/j.carbon.2012.03.006]
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