An X-ray photoelectron diffraction (XPD) structural characterization of an epitaxial MnO ultrathin film on Pt(111) / G. A., Rizzi; M., Petukhov; M., Sambi; Zanoni, Robertino; L., Perriello; G., Granozzi. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - 482-485:(2001), pp. 1474-1480. [10.1016/S0039-6028(01)00710-5]

An X-ray photoelectron diffraction (XPD) structural characterization of an epitaxial MnO ultrathin film on Pt(111)

ZANONI, Robertino;
2001

2001
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
An X-ray photoelectron diffraction (XPD) structural characterization of an epitaxial MnO ultrathin film on Pt(111) / G. A., Rizzi; M., Petukhov; M., Sambi; Zanoni, Robertino; L., Perriello; G., Granozzi. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - 482-485:(2001), pp. 1474-1480. [10.1016/S0039-6028(01)00710-5]
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/77928
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 37
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 32
social impact