ELECTRICAL DEGRADATION AND RECOVERY OF DIELECTRICS IN n-POLY-Si/SiOx/SiO2/p-sub STRUCTURES DESIGNED FOR APPLICATION IN LOW-VOLTAGE NON-VOLATILE MEMORIES / Irrera, Fernanda. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 41:(2001), pp. 1809-1813.
ELECTRICAL DEGRADATION AND RECOVERY OF DIELECTRICS IN n-POLY-Si/SiOx/SiO2/p-sub STRUCTURES DESIGNED FOR APPLICATION IN LOW-VOLTAGE NON-VOLATILE MEMORIES
IRRERA, Fernanda
2001
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.