Low Temperature Admittance Measurements in Thin Film Amorphous Silicon Structures / Caputo, Domenico; U., Forghieri; Palma, Fabrizio. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 82:(1997), pp. 733-741. [10.1063/1.365607]

Low Temperature Admittance Measurements in Thin Film Amorphous Silicon Structures

CAPUTO, Domenico;PALMA, Fabrizio
1997

1997
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Low Temperature Admittance Measurements in Thin Film Amorphous Silicon Structures / Caputo, Domenico; U., Forghieri; Palma, Fabrizio. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 82:(1997), pp. 733-741. [10.1063/1.365607]
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