Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system / Paris, Eugenio; B., Joseph; A., Iadecola; T., Sugimoto; L., Olivi; S., Demura; Y., Mizuguchi; Y., Takano; T., Mizokawa; Saini, Naurang Lal. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 26:(2014), p. 435701. [10.1088/0953-8984/26/43/435701]

Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system

PARIS, EUGENIO;SAINI, Naurang Lal
2014

2014
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system / Paris, Eugenio; B., Joseph; A., Iadecola; T., Sugimoto; L., Olivi; S., Demura; Y., Mizuguchi; Y., Takano; T., Mizokawa; Saini, Naurang Lal. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 26:(2014), p. 435701. [10.1088/0953-8984/26/43/435701]
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/620580
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? 3
  • Scopus 45
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 42
social impact