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Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system / Paris, Eugenio; B., Joseph; A., Iadecola; T., Sugimoto; L., Olivi; S., Demura; Y., Mizuguchi; Y., Takano; T., Mizokawa; Saini, Naurang Lal. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 26:(2014), p. 435701. [10.1088/0953-8984/26/43/435701]

Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system

PARIS, EUGENIO;SAINI, Naurang Lal
2014
2014
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2system / Paris, Eugenio; B., Joseph; A., Iadecola; T., Sugimoto; L., Olivi; S., Demura; Y., Mizuguchi; Y., Takano; T., Mizokawa; Saini, Naurang Lal. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 26:(2014), p. 435701. [10.1088/0953-8984/26/43/435701]
01a Articolo in rivista
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