X-ray and electron backscattered diffractometry of copper nanoparticles grown on porous silicon / H., Bandarenka; S., Prischepa; Balucani, Marco; R., Fittipaldi; A., Vecchione; C., Attanasio. - 12:(2009), p. 204. (Intervento presentato al convegno E-MRS Fall Meeting tenutosi a Warsaw nel Settembre 2009).

X-ray and electron backscattered diffractometry of copper nanoparticles grown on porous silicon

BALUCANI, Marco;
2009

File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/61700
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact