X-ray and electron backscattered diffractometry of copper nanoparticles grown on porous silicon / H., Bandarenka; S., Prischepa; Balucani, Marco; R., Fittipaldi; A., Vecchione; C., Attanasio. - 12:(2009), p. 204. (Intervento presentato al convegno E-MRS Fall Meeting tenutosi a Warsaw nel Settembre 2009).
X-ray and electron backscattered diffractometry of copper nanoparticles grown on porous silicon
BALUCANI, Marco;
2009
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