Strategia di valutazione dell'esposizione professionale a nanoparticelle: approccio metrologico multiparametrico / P., Castellano; A. R., Proietto; R., Ferrante; Canepari, Silvia; S., Moretti; I., Ammoscato; Curini, Roberta. - (2008), pp. 18-24. (Intervento presentato al convegno AIDII 14° Convegno di Igiene Industriale tenutosi a Corvara (BZ) nel 1-4 aprile 2008).
Strategia di valutazione dell'esposizione professionale a nanoparticelle: approccio metrologico multiparametrico
CANEPARI, Silvia;CURINI, Roberta
2008
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.