Evaluation of structural and adhesive properties of Nylon and PTFE alignment films by means of atomic force microscopy / Padeletti, G.; Pergolini, S.; Montesperelli, G.; D'Alessandro, Antonio; Campoli, F.; Maltese, Paolo. - In: APPLIED PHYSICS. A, MATERIALS SCIENCE & PROCESSING. - ISSN 0947-8396. - STAMPA. - 71:(2000), pp. 571-576. [10.1007/s003390000606]
Evaluation of structural and adhesive properties of Nylon and PTFE alignment films by means of atomic force microscopy
S. PERGOLINI;D'ALESSANDRO, Antonio;MALTESE, Paolo
2000
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