Investigation of crystalline silicon surface treatments in amorphous-crystalline heterojunction via capacitance measurements / M., Tucci; R., De Rosa; F., Roca; Caputo, Domenico; Palma, Fabrizio. - STAMPA. - 609:(2000), p. A13.3. (Intervento presentato al convegno Material Research Society Symposium tenutosi a San Francisco (USA) nel Aprile 2000).

Investigation of crystalline silicon surface treatments in amorphous-crystalline heterojunction via capacitance measurements

CAPUTO, Domenico;PALMA, Fabrizio
2000

2000
155899517X
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