Investigation of crystalline silicon surface treatments in amorphous-crystalline heterojunction via capacitance measurements / M., T., R., D.R., F., R., Caputo, D., Palma, F.. - STAMPA. - 609:(2000), p. A13.3. (Material Research Society Symposium San Francisco (USA) Aprile 2000).

Investigation of crystalline silicon surface treatments in amorphous-crystalline heterojunction via capacitance measurements

CAPUTO, Domenico;PALMA, Fabrizio
2000

2000
155899517X
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