A new capacitance technique for characterization of defective oxide / Caputo, Domenico; Irrera, Fernanda; Palma, Fabrizio. - STAMPA. - (2001), pp. 77-80. (Intervento presentato al convegno European Workshop on Ultimate Integration of Silicon tenutosi a Grenoble).

A new capacitance technique for characterization of defective oxide

CAPUTO, Domenico;IRRERA, Fernanda;PALMA, Fabrizio
2001

2001
2951484011
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