A new theoretical model for transverse acoustoelectric voltage measurement on Si/SiO2 structures / Palma, Fabrizio. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 66 (1):(1989), pp. 292-297.
A new theoretical model for transverse acoustoelectric voltage measurement on Si/SiO2 structures
PALMA, Fabrizio
1989
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.