Study of Si/SiO2 interface by transverse acoustoelectric voltage measurements / Abbate, A.; Palma, Fabrizio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 55 (13):(1989), pp. 1306-1308.

Study of Si/SiO2 interface by transverse acoustoelectric voltage measurements

PALMA, Fabrizio
1989

1989
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Study of Si/SiO2 interface by transverse acoustoelectric voltage measurements / Abbate, A.; Palma, Fabrizio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 55 (13):(1989), pp. 1306-1308.
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