Bias Controlled Amorphous Si/SiC:H Photodetector / Caputo, Domenico; DE CESARE, Giampiero; Irrera, Fernanda; Lemmi, F.; Masini, G.; Palma, Fabrizio; Tucci, M.. - In: DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA. - ISSN 1012-0394. - 44-46:(1995), pp. 943-954.

Bias Controlled Amorphous Si/SiC:H Photodetector

CAPUTO, Domenico;DE CESARE, Giampiero;IRRERA, Fernanda;PALMA, Fabrizio;
1995

1995
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Bias Controlled Amorphous Si/SiC:H Photodetector / Caputo, Domenico; DE CESARE, Giampiero; Irrera, Fernanda; Lemmi, F.; Masini, G.; Palma, Fabrizio; Tucci, M.. - In: DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA. - ISSN 1012-0394. - 44-46:(1995), pp. 943-954.
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