XPS analysis of sol-gel processed doped and undoped TiO2 films for sensors / Zanoni, Robertino; G., Righini; A., Montenero; G., Gnappi; G., Montesperelli; E., Traversa; G., Gusmano. - In: SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS. - ISSN 0142-2421. - STAMPA. - 22:(1994), pp. 376-379. [10.1002/sia.740220182]
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


