Infrared reflectance spectroscopy of electrochromic NiO xH y films made by reactive dc sputtering / W., Estrada; A. M., Andersson; C. G., Granqvist; A., Gorenstein; Decker, Franco. - In: JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH. - ISSN 0884-2914. - 6:(1991), pp. 1715-1719. [10.1557/JMR.1991.1715]
Infrared reflectance spectroscopy of electrochromic NiO xH y films made by reactive dc sputtering
DECKER, Franco
1991
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