Photothermal depth profiling by thermal wave backscattering theory

Li Voti, Roberto; Leahu, Grigore; Paoloni, S.; Sibilia, Concetta; Bertolotti, Mario

doi:http://doi.org/10.14891/analscisp.17icpp.0.s414.0

In this paper we want to introduce the theory of the thermal wave backscattering for the photothermal depth profiling in inhomogeneous materials. We compare three applications, discuss the different potentiality, and show some numerical results of reconstruction.

Si tratta di un lavoro originale dove viene formalizzata la teoria del backscattering delle onde termiche, introdotta per la prima volta dagli autori, e del relativo problema inverso per la determinazione del profilo di effusività termica.

Photothermal depth profiling by thermal wave backscattering theory / LI VOTI, Roberto; Leahu, Grigore; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Bertolotti, Mario. - In: ANALYTICAL SCIENCES. - ISSN 0910-6340. - STAMPA. - 17:speciale(2001), pp. S414-S416.

Titolo:	Photothermal depth profiling by thermal wave backscattering theory
Autori:	LI VOTI, Roberto LEAHU, GRIGORE S. Paoloni SIBILIA, Concetta BERTOLOTTI, Mario mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2001
Rivista:	ANALYTICAL SCIENCES
Citazione:	Photothermal depth profiling by thermal wave backscattering theory / LI VOTI, Roberto; Leahu, Grigore; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Bertolotti, Mario. - In: ANALYTICAL SCIENCES. - ISSN 0910-6340. - STAMPA. - 17:speciale(2001), pp. S414-S416.
Handle:	http://hdl.handle.net/11573/422198
Appartiene alla tipologia:	01a Articolo in rivista

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