Use of the Singular Value Decomposition in the photothermal depth profiling / LI VOTI, Roberto; Larciprete, Maria Cristina; Leahu, Grigore; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Bertolotti, Mario. - STAMPA. - 6:(2002), pp. 131-134. (Intervento presentato al convegno IV International Workshop - Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials tenutosi a Universitè Laval - Quebec City - Canada nel 7-10 Agosto 2001).
Use of the Singular Value Decomposition in the photothermal depth profiling
LI VOTI, Roberto;LARCIPRETE, Maria Cristina;LEAHU, GRIGORE;SIBILIA, Concetta;BERTOLOTTI, Mario
2002
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.