Use of the Singular Value Decomposition in the photothermal depth profiling / LI VOTI, R., Larciprete, M.C., Leahu, G., S., P., Sibilia, C., Bertolotti, M.. - STAMPA. - 6:(2002), pp. 131-134. (IV International Workshop - Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials Universitè Laval - Quebec City - Canada 7-10 Agosto 2001).

Use of the Singular Value Decomposition in the photothermal depth profiling

LI VOTI, Roberto;LARCIPRETE, Maria Cristina;LEAHU, GRIGORE;SIBILIA, Concetta;BERTOLOTTI, Mario
2002

2002
IV International Workshop - Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
Use of the Singular Value Decomposition in the photothermal depth profiling / LI VOTI, R., Larciprete, M.C., Leahu, G., S., P., Sibilia, C., Bertolotti, M.. - STAMPA. - 6:(2002), pp. 131-134. (IV International Workshop - Advances in Signal Processing for Nondestructive Evaluation of Materials Universitè Laval - Quebec City - Canada 7-10 Agosto 2001).
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