Point defects migration induced by subthreshold focused collisions / Tenenbaum, Alexander; Nguyen Van, Doan. - In: JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS. - ISSN 0022-3115. - STAMPA. - 69 & 70:(1978), pp. 771-775. [10.1016/0022-3115(78)90]

Point defects migration induced by subthreshold focused collisions

TENENBAUM, Alexander;
1978

1978
Point defects; Focused collisions; Computer simulation
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Point defects migration induced by subthreshold focused collisions / Tenenbaum, Alexander; Nguyen Van, Doan. - In: JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS. - ISSN 0022-3115. - STAMPA. - 69 & 70:(1978), pp. 771-775. [10.1016/0022-3115(78)90]
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