X-ray absorption and diffraction study of II-VI dilute oxide semiconductor alloy epilayers / F., Boscherini; M., Malvestuto; G., Ciatto; F., Dacapito; G., Bisognin; D., DE SALVADOR; M., Berti; Felici, Marco; Polimeni, Antonio; Y., Nabetani. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 19:(2007), pp. 446201-1-446201-12. [10.1088/0953-8984/19/44/446201]
X-ray absorption and diffraction study of II-VI dilute oxide semiconductor alloy epilayers
FELICI, Marco;POLIMENI, Antonio;
2007
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
