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We report a measurement of the top-quark mass, M(t), in the dilepton decay channel of tt -> bl'(+) v(l')bl(l)(-v) using an integrated luminosity of 1.0 fb(-1) of pp collisions collected with the CDF II detector. We apply a method that convolutes a leading-order matrix element with detector resolution functions to form event-by-event likelihoods; we have enhanced the leading-order description to describe the effects of initial-state radiation. The joint likelihood is the product of the likelihoods from 78 candidate events in this sample, which yields a measurement of M(t) = 164.5 +/- 3.9 (stat.) +/- 3.9 (syst.) GeV/c(2), the most precise measurement of Mt in the dilepton channel.
Precision measurement of the top-quark mass from dilepton events at CDF II / Abulencia, A., Adelman, J., Affolder, T., Akimoto, T., Albrow, M.g., Ambrose, D., Amerio, S., Amidei, D., Anastassov, A., Anikeev, K., Annovi, A., Antos, J., Aoki, M., Apollinari, G., Arguin, J.f., Arisawa, T., Artikov, A., Ashmanskas, W., Attal, A., Azfar, F., et al.. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - STAMPA. - 75:3(2007), pp. 031105-1-031105-7. [10.1103/physrevd.75.031105]
Precision measurement of the top-quark mass from dilepton events at CDF II
We report a measurement of the top-quark mass, M(t), in the dilepton decay channel of tt -> bl'(+) v(l')bl(l)(-v) using an integrated luminosity of 1.0 fb(-1) of pp collisions collected with the CDF II detector. We apply a method that convolutes a leading-order matrix element with detector resolution functions to form event-by-event likelihoods; we have enhanced the leading-order description to describe the effects of initial-state radiation. The joint likelihood is the product of the likelihoods from 78 candidate events in this sample, which yields a measurement of M(t) = 164.5 +/- 3.9 (stat.) +/- 3.9 (syst.) GeV/c(2), the most precise measurement of Mt in the dilepton channel.
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Precision measurement of the top-quark mass from dilepton events at CDF II / Abulencia, A., Adelman, J., Affolder, T., Akimoto, T., Albrow, M.g., Ambrose, D., Amerio, S., Amidei, D., Anastassov, A., Anikeev, K., Annovi, A., Antos, J., Aoki, M., Apollinari, G., Arguin, J.f., Arisawa, T., Artikov, A., Ashmanskas, W., Attal, A., Azfar, F., et al.. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - STAMPA. - 75:3(2007), pp. 031105-1-031105-7. [10.1103/physrevd.75.031105]
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/360575
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
