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Infrared near-field microscopy with the Vanderbilt free electron laser: overview and perspectivesElectron free laser / D., Vobornik; G., Margaritondo; J. S., Sanghera; P., Thielen; I. D., Aggarval; B., Ivanov; J. K., Miller; N. H., Tolk; Congiu, Agostina; M. A., Rizzo; D. W., Piston; F., Somma; G., Baldacchini; F., Bonfigli; T., Marolo; F., Flora; R. M., Montereali; A., Faenov; T., Pikuz; G., Longo; V., Mussi; R., Generosi; M., Luce; P. PERFETTI AND A., Cricenti. - In: INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY. - ISSN 1350-4495. - 45:(2004), pp. 409-413.
Infrared near-field microscopy with the Vanderbilt free electron laser: overview and perspectivesElectron free laser
D. VOBORNIK;G. MARGARITONDO;J. S. SANGHERA;P. THIELEN;I. D. AGGARVAL;B. IVANOV;J. K. MILLER;N. H. TOLK;CONGIU, Agostina;M. A. RIZZO;D. W. PISTON;F. SOMMA;G. BALDACCHINI;F. BONFIGLI;T. MAROLO;F. FLORA;R. M. MONTEREALI;A. FAENOV;T. PIKUZ;G. LONGO;V. MUSSI;R. GENEROSI;M. LUCE;P. PERFETTI AND A. CRICENTI
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Infrared near-field microscopy with the Vanderbilt free electron laser: overview and perspectivesElectron free laser / D., Vobornik; G., Margaritondo; J. S., Sanghera; P., Thielen; I. D., Aggarval; B., Ivanov; J. K., Miller; N. H., Tolk; Congiu, Agostina; M. A., Rizzo; D. W., Piston; F., Somma; G., Baldacchini; F., Bonfigli; T., Marolo; F., Flora; R. M., Montereali; A., Faenov; T., Pikuz; G., Longo; V., Mussi; R., Generosi; M., Luce; P. PERFETTI AND A., Cricenti. - In: INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY. - ISSN 1350-4495. - 45:(2004), pp. 409-413.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/25818
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
