Thickness measurement by photothermal deflection method: basic influence of surface conductance / Bertolotti, Mario; LI VOTI, Roberto; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Leahu, Grigore. - In: PROGRESS IN NATURAL SCIENCE. - ISSN 1002-0071. - STAMPA. - 6:supplemento(1996), pp. 309-312.
Thickness measurement by photothermal deflection method: basic influence of surface conductance
BERTOLOTTI, Mario;LI VOTI, Roberto;SIBILIA, Concetta;LEAHU, GRIGORE
1996
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.