Thickness measurement by photothermal deflection method: basic influence of surface conductance / Bertolotti, Mario; LI VOTI, Roberto; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Leahu, Grigore. - In: PROGRESS IN NATURAL SCIENCE. - ISSN 1002-0071. - STAMPA. - 6:supplemento(1996), pp. 309-312.

Thickness measurement by photothermal deflection method: basic influence of surface conductance

BERTOLOTTI, Mario;LI VOTI, Roberto;SIBILIA, Concetta;LEAHU, GRIGORE
1996

1996
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Thickness measurement by photothermal deflection method: basic influence of surface conductance / Bertolotti, Mario; LI VOTI, Roberto; S., Paoloni; Sibilia, Concetta; Leahu, Grigore. - In: PROGRESS IN NATURAL SCIENCE. - ISSN 1002-0071. - STAMPA. - 6:supplemento(1996), pp. 309-312.
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