Bias Correction and Yield Optimisation of MMIC’s with External Digital Control / Scotti, Giuseppe; Tommasino, Pasquale; Trifiletti, Alessandro. - In: MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS. - ISSN 0895-2477. - 31:(2001), pp. 134-137. [10.1002/mop.1379]
Bias Correction and Yield Optimisation of MMIC’s with External Digital Control
SCOTTI, Giuseppe;TOMMASINO, PASQUALE;TRIFILETTI, Alessandro
2001
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