On the Relation between Defect Density and Dopant Concentration in Amorphous Silicon Films / Caputo, Domenico; DE CESARE, Giampiero; Irrera, Fernanda; Nascetti, Augusto; Palma, Fabrizio. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - 266-269:(2000), pp. 565-568. [10.1016/S0022-3093(99)00846-7]

On the Relation between Defect Density and Dopant Concentration in Amorphous Silicon Films

CAPUTO, Domenico;DE CESARE, Giampiero;IRRERA, Fernanda;NASCETTI, Augusto;PALMA, Fabrizio
2000

2000
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
On the Relation between Defect Density and Dopant Concentration in Amorphous Silicon Films / Caputo, Domenico; DE CESARE, Giampiero; Irrera, Fernanda; Nascetti, Augusto; Palma, Fabrizio. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - 266-269:(2000), pp. 565-568. [10.1016/S0022-3093(99)00846-7]
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