Diffraction analysis of a disordered surface, modelled on a probability distribution of reconstructed blocks: Bi/Si(001)-(2xn), n = 6.45 / Jedrecy, N.; Gavioli, L.; Mariani, Carlo; Betti, Maria Grazia; Croset, B.; DE BEAUVAIS, C.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 11:(1999), pp. 1935-1951. [10.1088/0953-8984/11/8/007]

Diffraction analysis of a disordered surface, modelled on a probability distribution of reconstructed blocks: Bi/Si(001)-(2xn), n = 6.45

MARIANI, CARLO;BETTI, Maria Grazia;
1999

1999
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Diffraction analysis of a disordered surface, modelled on a probability distribution of reconstructed blocks: Bi/Si(001)-(2xn), n = 6.45 / Jedrecy, N.; Gavioli, L.; Mariani, Carlo; Betti, Maria Grazia; Croset, B.; DE BEAUVAIS, C.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 11:(1999), pp. 1935-1951. [10.1088/0953-8984/11/8/007]
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