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Influence of annealing in deposited Ti Pt thin films sensing elements for quartz crystals microbalances / Vieira Vaz Junior, E.; Martina, C.; Saggin, B.; Gerosa, R.; Zampetti, E.; Mancuso, M. A.; Longobardo, A.; Palomba, E.; Dirri, F.; Gisellu, C.; Scaccabarozzi, D.. - (2023). (Intervento presentato al convegno IEEE 10th International Workshop on Metrology for AeroSpace (MetroAeroSpace) tenutosi a Milan; Italy).

Influence of annealing in deposited Ti Pt thin films sensing elements for quartz crystals microbalances

Dirri F.;Gisellu C.;
2023
2023
IEEE 10th International Workshop on Metrology for AeroSpace (MetroAeroSpace)
04 Pubblicazione in atti di convegno::04d Abstract in atti di convegno
Influence of annealing in deposited Ti Pt thin films sensing elements for quartz crystals microbalances / Vieira Vaz Junior, E.; Martina, C.; Saggin, B.; Gerosa, R.; Zampetti, E.; Mancuso, M. A.; Longobardo, A.; Palomba, E.; Dirri, F.; Gisellu, C.; Scaccabarozzi, D.. - (2023). (Intervento presentato al convegno IEEE 10th International Workshop on Metrology for AeroSpace (MetroAeroSpace) tenutosi a Milan; Italy).
04d Abstract in atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/1698053
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