Nell’ambito delle prove utilizzate per il controllo della qualità e della difettosità, un posto di rilievo è occupato dai Test Non Distruttivi (Non Destructive Testing, NDT). Il loro ampio impiego è legato al ruolo da essi ricoperto per le verifiche di qualità e di sicurezza dei prodotti, per l’affidabilità degli impianti, ed, infine, per la presenza di specifiche norme di prodotto. Nell’ampio contesto delle prove NDT, le tecniche di indagine basate sul metodo delle correnti indotte (ECT) sono, probabilmente, quelle più diffuse per le prove su materiali conduttori. Esse offrono metodi per ispezioni rapide su larga scala di materiali conduttori utilizzati in diversi campi di applicazione come quelli aerospaziale, nucleare, marittimo, etc. dove premature anomalie possono comportare problemi sia di carattere economico che di pericolo per la vita umana. Oggigiorno l’attenzione nello sviluppo di queste tecniche di indagine è focalizzata all’incremento della sensibilità nella rilevazione dei difetti ed alla capacità di individuarne le caratteristiche (forma e dimensioni geometriche). Gli autori sono da tempo impegnati in questa attività di ricerca: hanno proposto uno strumento innovativo per l’esecuzione di test non distruttivi, il quale, mediante particolari sonde ed opportune tecniche di elaborazione dati, permette la caratterizzazione del difetto oltre che la sua rilevazione e localizzazione. In questa memoria viene presentato uno studio che indaga la possibilità di migliorare ed ottimizzare le prestazioni della tecnica di diagnosi nella caratterizzazione del difetto utilizzando correnti indotte non sinusoidali generate mediante opportuni segnali di stimolo multi-frequenza. In particolare, gli obiettivi del metodo proposto sono quelli di incrementare la sensibilità nella rilevazione del difetto e di migliorare la capacità di definirne le caratteristiche senza aumentare i costi dello strumento. La tecnica sviluppata potrà essere implementata, estendendone i benefici, anche su strumenti commerciali che abbiano la capacità di funzionamento multifrequenza.
Segnali multifrequenza per Test Non Distruttivi mediante correnti indotte / Bernieri, A.; Betta, G.; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Paglia, A.. - (2011), pp. 211-212. (Intervento presentato al convegno XXVIII Congresso Nazionale del Gruppo di Coordinamento “Misure Elettriche ed Elettroniche” tenutosi a Genova).
Segnali multifrequenza per Test Non Distruttivi mediante correnti indotte
M. Laracca;
2011
Abstract
Nell’ambito delle prove utilizzate per il controllo della qualità e della difettosità, un posto di rilievo è occupato dai Test Non Distruttivi (Non Destructive Testing, NDT). Il loro ampio impiego è legato al ruolo da essi ricoperto per le verifiche di qualità e di sicurezza dei prodotti, per l’affidabilità degli impianti, ed, infine, per la presenza di specifiche norme di prodotto. Nell’ampio contesto delle prove NDT, le tecniche di indagine basate sul metodo delle correnti indotte (ECT) sono, probabilmente, quelle più diffuse per le prove su materiali conduttori. Esse offrono metodi per ispezioni rapide su larga scala di materiali conduttori utilizzati in diversi campi di applicazione come quelli aerospaziale, nucleare, marittimo, etc. dove premature anomalie possono comportare problemi sia di carattere economico che di pericolo per la vita umana. Oggigiorno l’attenzione nello sviluppo di queste tecniche di indagine è focalizzata all’incremento della sensibilità nella rilevazione dei difetti ed alla capacità di individuarne le caratteristiche (forma e dimensioni geometriche). Gli autori sono da tempo impegnati in questa attività di ricerca: hanno proposto uno strumento innovativo per l’esecuzione di test non distruttivi, il quale, mediante particolari sonde ed opportune tecniche di elaborazione dati, permette la caratterizzazione del difetto oltre che la sua rilevazione e localizzazione. In questa memoria viene presentato uno studio che indaga la possibilità di migliorare ed ottimizzare le prestazioni della tecnica di diagnosi nella caratterizzazione del difetto utilizzando correnti indotte non sinusoidali generate mediante opportuni segnali di stimolo multi-frequenza. In particolare, gli obiettivi del metodo proposto sono quelli di incrementare la sensibilità nella rilevazione del difetto e di migliorare la capacità di definirne le caratteristiche senza aumentare i costi dello strumento. La tecnica sviluppata potrà essere implementata, estendendone i benefici, anche su strumenti commerciali che abbiano la capacità di funzionamento multifrequenza.File | Dimensione | Formato | |
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