The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials / A., Bernieri; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Ventre, S.. - 2:(2004), pp. 543-549.

The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials

LARACCA M.;
2004

2004
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials / A., Bernieri; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Ventre, S.. - 2:(2004), pp. 543-549.
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