The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials / A., Bernieri; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Ventre, S.. - 2:(2004), pp. 543-549.
The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials
LARACCA M.;
2004
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.