L'utilizzo di tecniche non distruttive per la ricerca della presenza di micro-difetti presenti nella lavorazione dei materiali e per la misura delle loro caratteristiche geometriche ricopre un ruolo molto importante in molti settori relativi alla produzione industriale ed al controllo di qualità. Quando i materiali sono dei conduttori la tecnica basata sull'utilizzo di correnti parassite (ECT) è ad oggi tra le più diffuse. La semplicità del principio fisico su cui si basa ed ai bassi costi necessari per un utilizzo in linea sono i suoi principali punti di forza. Uno strumento per ECT è composto un sistema di induzione capace di eccitare le correnti parassite nel materiale sotto test, una sonda di misura capace di rilevare tali correnti e da un sistema di elaborazione dati capace di correlare la modifica del profilo delle correnti indotte alla presenza di un micro-difetto.
Utilizzo di segnali di eccitazione complessi in sistemi ECT / Betta, G.; Bernieri, A.; Burrascano, P.; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Ricci, M.. - (2013), pp. 179-180. (Intervento presentato al convegno - tenutosi a Trento).
Utilizzo di segnali di eccitazione complessi in sistemi ECT
M. Laracca;
2013
Abstract
L'utilizzo di tecniche non distruttive per la ricerca della presenza di micro-difetti presenti nella lavorazione dei materiali e per la misura delle loro caratteristiche geometriche ricopre un ruolo molto importante in molti settori relativi alla produzione industriale ed al controllo di qualità. Quando i materiali sono dei conduttori la tecnica basata sull'utilizzo di correnti parassite (ECT) è ad oggi tra le più diffuse. La semplicità del principio fisico su cui si basa ed ai bassi costi necessari per un utilizzo in linea sono i suoi principali punti di forza. Uno strumento per ECT è composto un sistema di induzione capace di eccitare le correnti parassite nel materiale sotto test, una sonda di misura capace di rilevare tali correnti e da un sistema di elaborazione dati capace di correlare la modifica del profilo delle correnti indotte alla presenza di un micro-difetto.File | Dimensione | Formato | |
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