An Automated Self-Calibrated Instrument for Non-Destructive Testing on Conductive Materials / A., Bernieri; Betta, G; Ferrigno, L; Laracca, M. - 2:(2003), pp. 1269-1274. (Intervento presentato al convegno 20th IEEE IMTC'03 Instrumentation and Measurement Technology Conference tenutosi a Vail, CO (USA)) [10.1109/IMTC.2003.1207955].
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.