Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations / Li, G; Mathew, J; Shafik, R; Pradhan, D; Ottavi, M; Pontarelli, S. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1536-125X. - 14:1(2015), pp. 130-139. [10.1109/TNANO.2014.2371928]

Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations

Pontarelli S
2015

2015
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations / Li, G; Mathew, J; Shafik, R; Pradhan, D; Ottavi, M; Pontarelli, S. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1536-125X. - 14:1(2015), pp. 130-139. [10.1109/TNANO.2014.2371928]
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