Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations / Li, G., Mathew, J., Shafik, R., Pradhan, D., Ottavi, M., Pontarelli, S.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1536-125X. - 14:1(2015), pp. 130-139. [10.1109/TNANO.2014.2371928]
Lifetime reliability analysis of complementary resistive switches under threshold and doping interface speed variations
Pontarelli S
2015
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


