A Comparative Evaluation of Designs for Reliable Memory Systems / Cardarilli, G; Lombardi, F; Ottavi, M; Pontarelli, S; Re, M; Salsano, A. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 21:4(2005), pp. 429-444. [10.1007/s10836-005-0975-9]
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