A Comparative Evaluation of Designs for Reliable Memory Systems / Cardarilli, G., Lombardi, F., Ottavi, M., Pontarelli, S., Re, M., Salsano, A.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 21:4(2005), pp. 429-444. [10.1007/s10836-005-0975-9]
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