Analysis and evaluations of reliability of reconfigurable FPGAs / Pontarelli, S; Ottavi, M; Vankamamidi, V; Cardarilli, G; Lombardi, F; Salsano, A. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 24:1-3(2008), pp. 105-116. [10.1007/s10836-007-5040-4]
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