High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies / Bolchini, C., Miele, A., Sandionigi, C., Ottavi, M., Pontarelli, S., Salsano, A., Metra, C., Omana, M., Rossi, D., Reorda, M., Sterpone, L., Violante, M., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A.. - (2012), pp. 121-125. (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 ) [10.1109/DFT.2012.6378211].

High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies

Pontarelli S;
2012

2012
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012
04 Pubblicazione in atti di convegno::04c Atto di convegno in rivista
High-reliability fault tolerant digital systems in nanometric technologies: Characterization and design methodologies / Bolchini, C., Miele, A., Sandionigi, C., Ottavi, M., Pontarelli, S., Salsano, A., Metra, C., Omana, M., Rossi, D., Reorda, M., Sterpone, L., Violante, M., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A.. - (2012), pp. 121-125. (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2012 ) [10.1109/DFT.2012.6378211].
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