Metastability of hot-wire amorphous silicon thin-film transistors / Stannowski, B; BROCKHOFF A., M; Nascetti, Augusto; Schropp, R. E. I.. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - 266/269:(2000), pp. 464-468. [10.1016/S0022-3093(00)00026-0]
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