Machine learning: hit time finding with a neural network

Thalmeier, Richard; Yin, H.; Aihara, H.; Aziz, T.; Bacher, S.; Bahinipati, S.; Barberio, E.; Baroncelli, Ti.; Baroncelli, To.; Basith, A. K.; Batignani, Giovanni; Bauer, A.; Behera, P. K.; Bertacchi, V.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Bosi, F.; Bosisio, L.; Bozek, A.; Buchsteiner, F.; Caria, G.; Casarosa, G.; Ceccanti, M.; Cervenkov, D.; Czank, T.; Dash, N.; De Nuccio, M.; Doležal, Z.; Forti, F.; Friedl, M.; Gobbo, B.; Grimaldo, J. A. M.; Hara, K.; Higuchi, T.; Irmler, C.; Ishikawa, A.; Jeon, H. B.; Joo, C.; Kaleta, M.; Kandra, J.; Kambara, N.; Kang, K. H.; Kodyš, P.; Kohriki, T.; Koike, S.; Komarov, I.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kun, W.; Kvasnicka, P.; La Licata, C.; Lalwani, K.; Lanceri, L.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Libby, J.; Lueck, T.; Mammini, P.; Martini, A.; Mayekar, S. N.; Mohanty, G. B.; Morii, T.; Nakamura, K. R.; Natkaniec, Z.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Park, H.; Prasanth, K.; Profeti, A.; Rashevskaya, I.; Rao, K. K.; Rizzo, G.; Resmi, P. K.; Rozanska, M.; Sahoo, D.; Sasaki, J.; Sato, N.; Schultschik, S.; Schwanda, C.; Stypula, J.; Suzuki, J.; Tanaka, S.; Tanigawa, H.; Taylor, G. N.; Tsuboyama, T.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Watanuki, S.; Watanabe, M.; Watson, I. J.; Webb, J.; Wiechczynski, J.; Williams, S.; Zani, L.

doi:10.22323/1.343.0065

At the High Energy Accelerator Research Organization (KEK) in Tsukuba, Japan, the double-sided silicon strip sub-detector of the Belle II experiment is read out by 1748 APV25 chips. FPGAs perform several calculations on the digitized signals. One of them will be "Hit Time Finding": the determination of the time and amplitude of the signal peaks of each event in real time using pre-programmed neural networks. This work analyses the possibility, precision and reliability of these calculations depending on various parameters.

Machine learning: hit time finding with a neural network / Thalmeier, Richard; Yin, H.; Aihara, H.; Aziz, T.; Bacher, S.; Bahinipati, S.; Barberio, E.; Baroncelli, Ti.; Baroncelli, To.; Basith, A. K.; Batignani, Giovanni; Bauer, A.; Behera, P. K.; Bertacchi, V.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Bosi, F.; Bosisio, L.; Bozek, A.; Buchsteiner, F.; Caria, G.; Casarosa, G.; Ceccanti, M.; Cervenkov, D.; Czank, T.; Dash, N.; De Nuccio, M.; Doležal, Z.; Forti, F.; Friedl, M.; Gobbo, B.; Grimaldo, J. A. M.; Hara, K.; Higuchi, T.; Irmler, C.; Ishikawa, A.; Jeon, H. B.; Joo, C.; Kaleta, M.; Kandra, J.; Kambara, N.; Kang, K. H.; Kodyš, P.; Kohriki, T.; Koike, S.; Komarov, I.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kun, W.; Kvasnicka, P.; La Licata, C.; Lalwani, K.; Lanceri, L.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Libby, J.; Lueck, T.; Mammini, P.; Martini, A.; Mayekar, S. N.; Mohanty, G. B.; Morii, T.; Nakamura, K. R.; Natkaniec, Z.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Park, H.; Prasanth, K.; Profeti, A.; Rashevskaya, I.; Rao, K. K.; Rizzo, G.; Resmi, P. K.; Rozanska, M.; Sahoo, D.; Sasaki, J.; Sato, N.; Schultschik, S.; Schwanda, C.; Stypula, J.; Suzuki, J.; Tanaka, S.; Tanigawa, H.; Taylor, G. N.; Tsuboyama, T.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Watanuki, S.; Watanabe, M.; Watson, I. J.; Webb, J.; Wiechczynski, J.; Williams, S.; Zani, L.. - In: POS PROCEEDINGS OF SCIENCE. - ISSN 1824-8039. - (2019). (Intervento presentato al convegno Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP2018) tenutosi a Antwerp; Belgium) [10.22323/1.343.0065].