The triple GEM detector control system for CMS forward muon spectrometer upgrade

Ahmed, W.; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Abi Akl, M.; Acosta, D.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Aleksandrov, A.; Aly, R.; Altieri, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barashko, V.; Barria, P.; Bencze, G.; Beni, N.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Holme, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Khan, S. A.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Conde Garcia, A.; Czellar, S.; Dabrowski, M. M.; De Lentdecker, G.; De Oliveira, R.; De Robertis, G.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Endroczi, G.; Errico, F.; Fenyvesi, A.; Ferry, S.; Furic, I.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Golovtsov, V.; Guiducci, L.; Guilloux, F.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Shah, A. H.; Iaydjiev, P.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P.; Korytov, A.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Kim, H.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F.; Madorsky, A.; Maerschalk, T.; Maggi, M.; Magnani, A.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Majumdar, N.; Merlin, J. A.; Mitselmakher, G.; Mohanty, A. K.; Mohapatra, A.; Molnar, J.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Piccolo, D.; Postema, H.; Puig Baranac, A.; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, G.; Ryu, M. S.; Safonov, A.; Salva, S.; Saviano, G.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shopova, M.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Swain, S. K.; Szillasi, Z.; Talvitie, J.; Tatarinov, A.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Van Stenis, M.; Venditti, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, P.; Volkov, S.; Vorobyev, A.; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.

doi:10.1088/1748-0221/12/02/P02003

The CMS experiment at LHC will upgrade its forward muon spectrometer by incorporating Triple-GEM detectors. This upgrade referred to as GEM Endcap (GE1/1), consists of adding two back-to-back Triple-GEM detectors in front of the existing Cathode Strip Chambers (CSC) in the innermost ring of the endcap muon spectrometer. Before the full installation of 144 detectorsin2019–2020,CMSwillﬁrstinstalltensinglechamberprototypesduringtheearly2017. This pre-installation is referred as the slice test. These ten detectors will be read-out by VFAT2 chips [1]. On-detector there is also a FPGA mezzanine card which sends VFAT2 data optically to the µTCA back-end electronics. The correct and safe operation of the GEM system requires a sophisticated and powerful online Detector Control System, able to monitor and control many heterogeneoushardwaredevices. TheDCSsystemdevelopedfortheslicetesthasbeentestedwith CMSTriple-GEMdetectorsinthelaboratory. InthispaperwedescribethenewlydevelopedDCS systemandpresenttheﬁrstresultsobtainedintheGEMassemblyandqualityassurancelaboratory.

The triple GEM detector control system for CMS forward muon spectrometer upgrade / Ahmed, W.; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Abi Akl, M.; Acosta, D.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Aleksandrov, A.; Aly, R.; Altieri, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barashko, V.; Barria, P.; Bencze, G.; Beni, N.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Holme, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Khan, S. A.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Conde Garcia, A.; Czellar, S.; Dabrowski, M. M.; De Lentdecker, G.; De Oliveira, R.; De Robertis, G.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Endroczi, G.; Errico, F.; Fenyvesi, A.; Ferry, S.; Furic, I.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Golovtsov, V.; Guiducci, L.; Guilloux, F.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Shah, A. H.; Iaydjiev, P.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P.; Korytov, A.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Kim, H.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F.; Madorsky, A.; Maerschalk, T.; Maggi, M.; Magnani, A.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Majumdar, N.; Merlin, J. A.; Mitselmakher, G.; Mohanty, A. K.; Mohapatra, A.; Molnar, J.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Piccolo, D.; Postema, H.; Puig Baranac, A.; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, G.; Ryu, M. S.; Safonov, A.; Salva, S.; Saviano, G.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shopova, M.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Swain, S. K.; Szillasi, Z.; Talvitie, J.; Tatarinov, A.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Van Stenis, M.; Venditti, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, P.; Volkov, S.; Vorobyev, A.; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 12:2(2017), pp. 1-11. [10.1088/1748-0221/12/02/P02003]