VICI, ANDREA
VICI, ANDREA
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
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Generation of oxide traps in Back-Side-Illuminated CMOS image sensors and impact on reliability
2019 Vici, A.; Russo, F.; Lovisi, N.; Marchioni, A.; Casella, A.; Irrera, F.
Performance and reliability degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated configuration
2020 Vici, Andrea; Russo, Felice; Lovisi, Nicola; Marchioni, Aldo; Casella, Antonio; Irrera, Fernanda
Through-silicon-trench in back-side-illuminated CMOS image sensors for the improvement of gate oxide long term performance
2019 Vici, Andrea; Russo, F.; Lovisi, N.; Latessa, L.; Marchioni, Andrea; Casella, ANNA RITA; Irrera, F.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Generation of oxide traps in Back-Side-Illuminated CMOS image sensors and impact on reliability | 2019 | Vici, A.; Russo, F.; Lovisi, N.; Marchioni, A.; Casella, A.; Irrera, F. | |
Performance and reliability degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated configuration | 2020 | Vici, Andrea; Russo, Felice; Lovisi, Nicola; Marchioni, Aldo; Casella, Antonio; Irrera, Fernanda | |
Through-silicon-trench in back-side-illuminated CMOS image sensors for the improvement of gate oxide long term performance | 2019 | Vici, Andrea; Russo, F.; Lovisi, N.; Latessa, L.; Marchioni, Andrea; Casella, ANNA RITA; Irrera, F. |